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  • 产品名称：微同轴屏蔽效能测试装置

  • 产品型号：HDS-18A
  • 产品厂商：华瑞高（horigol）
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简单介绍：
微同轴屏蔽效能测试装置HDS-18A适用于导电薄膜、薄型织物、金属薄板、含导电涂覆层或镀层的薄型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量，目前暂无标准与之对应，微同轴屏蔽效能测试装置的测试原理同ASTM 4935-2010 规定的测试装置。
详情介绍：

HDS-18A微同轴屏蔽效能测试装置是在ASTM 4935-2010标准的基础上进行改进的微波频段测试夹具，超精密加工的微同轴部件在测试频率范围内具有很小的驻波比和插入损耗，有效保证测试结果的真实性与准确性，测试装置核心夹具采用不锈钢加工，中心微导体采用镀金工艺处理，保证良好性能的同时具备美观耐用性。

技术参数：

1. 测试频率范围：1GHz～18GHz，（可在10MHz～18GHz内使用）

2. 醉大驻波比（VSWR）：＜1.2（1GHz～18GHz）

3. 插入损耗：＜1.5dB（1GHz～18GHz）

4. 外形尺寸：260mm×160×200mm（H×W×D）

5. 重量：2kg

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