抗干扰开发系统

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深圳市华瑞高电子技术有限公司
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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	抗干扰开发系统 E1	大部分电子产品需要通过电快速瞬变脉冲群（Burst）和静电放电（ESD）等项目的标准测试。测试时，把干扰脉冲从设备外部耦合到内部，同时监视设备的工作状态。如果设备没有通过这些标准的测试，测试本身几乎不能提供任何如何解决问题的信息。 E1抗干扰开发系统能采用不同的方式，向电子模块直接注入干扰电流、电场和磁场，在设备内部仿真干扰的过程，以定位电路板上电磁薄弱点，理解耦合机理，完成优化后的设计修改。 E1抗干扰开发系统不能按照某个标准进行兼容性测试。所以建议先对被测物进行标准的抗干扰测试（必要的话，在EMC实验室进行测试），然后对可能的故障原因进行分析，再利用E1抗干扰开发系统来找出更多的故障原因，并利用E1在产品开发场地进行设计修改的评估。
	E1 磁场探头 S2 set	电子设备和电子元件在干扰作用下会产生快速瞬态脉冲磁场，E1 磁场探头 S2 set探头组中包含的有源和无源磁场探头可以无反馈地测量这些快速瞬态脉冲磁场。借此就可以分析爆冲或ESD-过程，爆冲或ESD会对受测物产生干扰。磁场探头通过光纤连接把测得的信号传到SGZ 21的光学输入口。E1 磁场探头 S2 set探头组只能与脉冲群发生器SGZ21 连接使用。

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