IC EMC测试设备

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	IC电磁发射测试系统 IEC61967-6	EC61967-6磁场探头法是通过测试PCB板导线上的电流来评定集成电路的电磁发射所组成的IC电磁发射测试系统。IC电磁发射测试系统是芯片引脚通过PCB板上的导线与电源或外围电路相连，因而它产生的射频电流可用一个靠近的磁场探头获取，由电磁感应定律，探头输出端的电压正比于导线上的射频电流。
	IC电磁发射测试系统 TEM小室法	依据IEC 61967-2的IC电磁发射测试系统-TEM小室法其实就是一个变型的同轴线，由一块扁平的芯板作为内导体，外导体为方形，两端呈锥形向通用的同轴器件过渡，一头连接同轴线到测试接收机，另一头连接匹配负载。IC电磁发射测试系统中的小室的外导体顶端有一个方形开口用于安装测试电路板。
	IC测试板 HS61967-1	依据IEC 61967-1 IC测试板，由接地平面、IC适配器、连接板等组成。集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132以及IEC 62215。
	IC电磁发射测试系统 1Ω/150Ω直接耦合法	依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法是根据集成电路电磁兼容测试标准，目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法，用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。
	IC脉冲群抗扰度测试系统 HS62215	IC脉冲群抗扰度测试系统是根据集成电路电磁兼容的测试标准设计的测试系统，IC脉冲群抗扰度测试系统主要有电磁发射测试标准IEC 61967（用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试）、电磁抗扰度标准IEC 62132（用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试）以及脉冲抗扰度标准IEC 62215。
	四轴定位IC扫描仪 ICS 105 set	ICS 105型四轴定位IC扫描仪，可对集成电路和小型组件进行高频近场测量。ICS 105 set 四轴定位IC扫描仪还可以单独订购的 ICR 型近场微探头适用于 1.5MHz 至 6GHz 频率范围内的测量，空间分辨率可达50μm。

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