电磁屏蔽效能测试

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法兰同轴法屏蔽效能测试 | 波导管法屏蔽效能测试 | 屏蔽室法屏蔽效能测试 | 三同轴法屏蔽效能测试 | 线注入法屏蔽效能测试 | 接地板法测试系统 | 电流探头法屏蔽测试系统 | 电磁导率测试系统

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	小同轴屏蔽效能测试装置 HDS-85	小同轴屏蔽效能测试装置HDS-85适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量。
	波导管法屏蔽效能测试装置 HDS-05	HDS-05波导管法屏蔽效能测试装置是一套专门用于屏蔽效能（SE）测试的特殊波导组件，准确计算并优化的结构保证了SE测试波导组件的低驻波比和低插入损耗值，从而有效保证SE测试结果的准确性。HDS-05波导管法屏蔽效能测试装置符合目前国际上主流研究机构推荐的屏蔽效能测试方法。
	微同轴屏蔽效能测试装置 HDS-18A	微同轴屏蔽效能测试装置HDS-18A适用于导电薄膜、薄型织物、金属薄板、含导电涂覆层或镀层的薄型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量，目前暂无标准与之对应，微同轴屏蔽效能测试装置的测试原理同ASTM 4935-2010 规定的测试装置。
	线注入法测试装置 HT406S	电动汽车连接器及屏蔽线缆系统的线注入法测试装置,其特征在于,包括左注入装置和右注入装置,左注入装置内设有与连接器固定座的一端卡接的孔,连接器固定座的另一端设有与连接器一端匹配连接的开口,右注入装置内设有与屏蔽线缆的一端卡接的孔,左注入装置的顶部设有转接头,右注入装置的顶部设有转接头,转接头与转接头之间通过注入线连接;连接器固定座中设有与连接器一端连接的电路板,电路板上固定有**电阻。
	屏蔽效能测试装置 HEM-2108	EM-2108屏蔽效能测试装置配有参考标准试样、负载标准试样和动态范围试样。
	法兰同轴屏蔽效能测试 HDS-15	法兰同轴屏蔽效能测试HDS-15是根据《电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法》 GJB 6190-2008要求设计，法兰同轴屏蔽效能测试HDS-15可用来完成电磁屏蔽材料的屏蔽效能测试。
	屏蔽性能测试 CoMeT-40	屏蔽性能测试CoMeT-40是由 CoMeT 测试套管及相应的网络分析仪组成。通过屏蔽性能测试CoMeT-40的封闭测试装置，可以测试出大于 125dB 的屏蔽衰减和准确到 μOhm 的转移阻抗。
	法兰同轴屏蔽效能测试仪 HDS-35	HDS-35法兰同轴屏蔽效能测试仪适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电橡胶、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量，HDS-35法兰同轴屏蔽效能测试仪完全符合GB/T 25471-2010；GJB 6190-2008的标准测试要求。
	电流探头法屏蔽效能测试系统 HDS-37133	电动汽车按照GB/T 18387《电动车辆测电磁场发射强度的限值和测量方法，宽带，9 kHz~30 MHz》进行试验时超标严重。究其原因，大多是由于电驱动系统的高电压、大电流造成的。为了抑制辐射骚扰的影响，应采取相应的屏蔽措施。高压电缆是电驱动系统的重要组成部分，电缆的屏蔽效能对电动车电磁兼容性能影响很大。
	法兰同轴屏蔽效能测试装置 HDS-15	HDS-15法兰同轴屏蔽效能测试装置适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电介质板等平板型电磁屏蔽材料的平面波屏蔽效能的测量，HDS-15法兰同轴屏蔽效能测试装置符合GJB 6190-2008标准的要求。
	CoMeT测试系统 CoMeT-E	CoMeT测试系统CoMeT-E是一款专用测试功率电缆的CoMeT测试系统。
	线注入法蔽效能测试系统 HT406CT	HT406C线注入法屏蔽效能测试系统是对线缆屏蔽效能更进一步研究的测试方法，该方法在VG95214-11_2002_11【8】、IEC62153-4和IEC96-1,2/1993 修改版中有详细描述。我们采用频谱分析仪来进行屏蔽效能的测试，适用于频段在100kHz-3GHz。
	小窗法屏蔽效能测试箱 HDS-18S	小窗法屏蔽效能测试箱适用于屏蔽织物、金属薄板、非导电材料表面涂层或镀层、金属网、导电膜、导电玻璃、导电橡胶、导电介质板、导电复合材料等平板型材料微波频段屏蔽效能的测量。小窗法屏蔽效能测试箱适用标准：GJB6190-2008；MIL-DTL-83528-C（参考）。

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