近场探头

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首页 > 产品目录 > EMI传导和辐射测试仪 > 近场探头

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	近场探头 PS-400	PS-400近场探头是一款由**探头，宽带探头，H场探头和探头箱组成的近场探头组。此款产品性能以及易用性优良。其独特的设计使得由于手握位置和电缆布置造成的过于狭小或者难以到达的位置能通过此款探头组进行测试。
	近场探头 Beehive 101A	配合BEEHIVE 近场探头使用，近场测试的目的是为了找到电磁干扰的源头，对于信号比较微弱的场合，Beehive 101A近场探头增加前置放大器，可以大大提高系统测试的灵敏度。
	微型近场探头组 MFA 01	MFA 01微型近场探头组的分辨率高，在磁场测量方面性能优异。MFA 01微型近场探头组可以测量频率范围在6GHz以下的磁场。
	射频H场测试探头 P1602和P1702	射频H场测试探头P1602和P1702用于电路板上电磁近场的射频测试。用探头测试到电压说明电路板受到 H 场刺激。射频H场测试探头P1602和P1702通过一个隔离环，探头放置于距离电路板 3米或者 10 米的固定位置。
	近场探头套件 N9311X-100	N9311X-100近场探头套件中提供了磁场探头、近场探头等，N9311X-100 近场探头套件主要是用于探测印刷电路板、模块、元器件、集成电路和电磁干扰源所产生的辐射发射。
	近场探头组 XF1	近场探头组XF1是由4个磁场探头和1个电场探头组成，近场探头组XF1的频率范围30MHz ～ 6GHz。
	近场探头 SX	近场探头SX有电子屏蔽探针头，特别设计用于上限频率范围10GHz。这些被动近场探头SX 没有前置放大器，并且通过SMA连接器连接到光学分析仪上。
	EFT注入探头 P250	P250型EFT注入探头按照IED 62215-3标准在集成电路进行脉冲群耦合。EFT注入探头P250与脉冲群发生器（IEC 61000-4-4）相连。借助可换的探针，可以通过不同的耦合电容，把干扰脉冲作用到受测的集成电路引脚上。
	近场探头组 LF1	LF1近场探头组包含4个屏蔽无源近场探头，LF1近场探头组主要用于在研发阶段测量电子模块上长波、中波和短波区的射频磁场。
	射频注入探头 P500系列	P500型射频注入探头按照IEC 62132-4标准在集成电路引脚中进行射频供电。当施加干扰时能够在集成的测量输出端口分别测量电流和电压。P500型射频注入探头工作时与一个功率放大器相连。
	射频注入探头 P500	射频注入探头P500来自功率放大器的射频干扰通过探头流向被测针脚，同时在探头**进行电流和电压的测量。射频注入探头P500可以记录下的参数可以绘制IC的EMC特性，得出更正确的结论。大电流时，因磁性原因产生功能故障，大电压时，��耦合电容产生故障。
	近场探头 EM5030 （30MHz～3GHz）高频磁场探头	EM5030/EM5030LF系列近场探头组包含了7个专门用来测试磁场（H）探头，它有效地屏蔽了电场干扰（E），主要用于电磁兼容整改时定位干扰源的近场探头。EM5030近场探头的频率范围是30MHz-3GHz，共4种探头形状；EM5030LF近场探头的频率范围是9kHz-50MHz，共3种探头形状。

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