PTI816 ict上IC的测试

日期：2024-11-18 19:49

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摘要：

　PTI816 ict上IC的测试
pti816 ICT机器的IC主要有静态及动态两种测试法
静态测试法：
1 开短路（open/short)测试法

　　测试IC各脚之间的开短路来测试出IC**

　　2,IC保护二极管测试法

　　每个IC都对地和电源有一个保护反向二极管,通过测试此反向二极管来测试IC的缺件,空焊,反插等**现像

　　3,HP TESTJET量测法(ivetp)

　　HP TestJetTechnology 是量测感測应器与IC 脚框之间的电容量来偵测IC 接脚的空焊。

　　1) 由于采用ReedRelay 的ScannerBoard，Guarding 能力强，因此测试效果好。

　　2) 由于干扰处理能力强，因此对SMD

　　Type Connector的量测相当可靠

　　3) 其对IC的可测率达到95%以上

　　4 IC SCAN功能测试

　　此技术是我公司**技术,测试并聊IC的开短路.

　　功能测试主要有：

　　1)稳压管的稳压值测试

　　2)LED的测试

　　3)电机马达的测试
      4）板子的功能测试，以达到测试待测板功能
      5）数字IC的数位测试，确定逻辑关系
     6）BSCAN测试，可以无测试点测试开短路及IC功能

　PTI816ict上IC的测试

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