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ict的TESTJET的用途及故障判断
日期：2024-11-18 19:49
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摘要：
ict的TESTJET的用途及故障判断
现在主要的ICT机器都有TESTJET功能,其主要功能有:
1,测试集成电路IC的开路及短路和反件，
2,连接器的开路,
3,电解电容的极性.
原理就是送个正弦信号到待测元器件针脚,然后通过感应器量测其耦合电容的变化，今天和大家分享下我在使用testjet这种测试技术及硬件时遇到的问题和解决方法。大家知道当我们发现Testjet测试失败是，程序显示给我们的错误信息一般是某个器件的引脚开路，譬如u1.1 xxxx,u100.F5 xxxx,J1.12 xxxx 等等信息,xxxx包含这个PIN的测试失败值。
主要的非待测板问题的故障。
- Testjet的感应片磨损或坏了–这个是因为使用时间长导致，解决办法:换个新的就OK.
- Testjet的放大器坏了–这个是因为使用时间长导致，解决办法:新的就OK.
- Testjet的接线松散或脱落,重新接线就OK了
- Testjet的MUX card有问题–这种情况一般在使用新夹具会碰到，这是因为mux card不是原产质量不过关造成，直接联系供应商更换.
- Tesjet的转接针故障包含转接对位不准或是针孔太小–这种情况当目视不准后，要联系供应商的机构工程师解决。不懂的别拆，机构的很多零件是互组的，装不好会引起其他位置不准.
- Testjet的MUX card的接线错误–这包含两种情况，一是mux card 10pin 连接器J1到BRC的接线有误，一种是mux card的port口到testjet的接线错误
- 系统故障–这种情况一般很少出现，如果以上都排除了再确认系统的control card 本身是否有问题。
