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ict上IC的测试
日期：2024-11-18 17:45
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摘要：
ict上IC的测试:
1 开短路测试法
测试IC各脚的开短路来测试我出**
2,保护二极体测试法
每个IC都对地和电源有一个反向二极体,通过测试此反向二极体来测试IC的缺件,空焊,反插等**现像
3,HP TESTJET量测法（ivetp)
HP TestJetTechnology 是量测感測应器与IC 脚框之间的电容量来偵测IC 接脚的空焊。
1) 由于采用ReedRelay 的ScannerBoard，Guarding 能力强，因此测试效果好。
2) 由于干扰处理能力强，因此对SMD
Type Connector的量测相当可靠
3) 其对ＩＣ的可测率达到９５％以上
4 ISSCAN功能测试
此技术是我公司**技术,测试并聊IC的开短.
5功能测试还支持
1)稳压管的稳压值测试
2)LED的测试
3)电机马达的测试
ict上IC的测试
