基于ICT的功能测试系统

日期：2025-01-11 07:44

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摘要：

基于ICT的功能测试系统

客户要求:

1,对待测板上运算放大器,AD,TTL,MCU进行功能测试

2,对待测板VCC进行上电

3,要支持JTAG的在线编程

4,需要具用通用性,可以支持多种机种

系统结构:

模块功能

1,PC:对ICT和Power,Function module JTAG 进行控制

2,program power supply:对UUT进行上电,

3,Function module: AD,OP,AD, TTL MCU Function test

4,JTAG module:JTAG在线烧录模块

5,Fixture,提供电源,测试点,JTAG触点夹具

实现流程:

首先对UUT用PTI816进行静态测试,如果测试PASS,则power supply对UUT进行上电进行JTAG烧录.确认烧录对D后再,TTL,MCU等IC进行功能测试