ICT，AOI，ATE，XAI，飞针测试比较

日期：2024-11-18 19:58

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摘要：

	AOI	ICT	ATE	AXI	飞针
成本	较高	低	高	高	高
工作模式	光学测试	电气测试	电气测试	光学X射线	电气测试
测试对象	SMD	SMD/DIP	SMD/DIP	BGA	SMD/DIP
检测重点	物理损件	电气+物理	电气+物理	物理损件	电气+物理
开/短路	光学测试	电气测试	电气测试	光学测试	电气测试
夹具	无	有,成本低	有,成本很高	无	无
时间/速度	慢	快	较快	慢	很慢
误判率	高	低	低	较低	高
维护费用	较低	低	高	高	高

使用以上设备主要目的都是为了提高生产工艺水平，提高生产质量也就是所谓制程良率。ICTATE飞针测试是通过电气测试检测元件，在检测制程的同时也检测元件的电气良率，并可帮助维修提高出货良率及提高返修效率。就ICT而言，各家软/硬件电路各异，有的硬体设计复杂自我保护性高，硬体不易损坏，测试量程宽信号广，如派捷PTI816。有的设计简单成本低，无相关辅助保护电路设计，如：在待测带电的情况下测试会损坏设备等。
ICT，AOI，ATE，XAI，飞针测试比较

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