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光耦测试指南(NV)
日期：2025-01-04 18:06
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摘要：光耦测试介绍
1. 应用场景： 光电耦合器工作是否正常
2．测试方法：
常用做法：ICT + FCT
PTI设备：PTI-816S 在线测试仪（ICT）
3. 测试模式：NV
电压范围：0~9.9V
测试文档建立
1. 新建测试程序
2. 进入元器件编辑
3. 添加测试步骤
4. 设定方法
标准值：管理基准（PIN3，4）
实际值：1，2之间输出电压
+/- %：标准值的 上下限范围
模 式：NV
高点（PIN 3）：NV模式，系统固定输出...
光耦测试介绍
1. 应用场景： 光电耦合器工作是否正常
2．测试方法：
常用做法：ICT + FCT
PTI设备：PTI-816S 在线测试仪（ICT）
3. 测试模式：NV
电压范围：0~9.9V
测试文档建立
1. 新建测试程序
2. 进入元器件编辑
3. 添加测试步骤
4. 设定方法
标准值：管理基准（PIN3，4）
实际值：1，2之间输出电压
+/- %：标准值的 上下限范围
模 式：NV
高点（PIN 3）：NV模式，系统固定输出4V
低点（PIN 4）：GND
G1（PIN 2）：GND
G2（PIN 1）：输入电压
测试值：实际读取数据（PIN3，PIN4）
案例演示
1. 硬件说明
测试数据：
分析结果
|
SN. |
PIN |
测试结果 |
|
1 |
OK |
PASS |
|
2 |
PIN3 OPEN |
FAIL |
|
3 |
PIN4 OPEN |
FAIL |
|
4 |
PIN1 OPEN |
FAIL |
|
5 |
PIN2 OPEN |
FAIL |
结论：通过上述对比，光藕合格可以检测出
