基于ICT的功能测试系统

日期：2024-11-18 18:48

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摘要：目前随着对产品的品质要求越来越高且人力成本也越来越高，造制商都在让工厂自动化和集成化。尽量让人员减少下来，引系统就可以让原来两人的测试工位，改为１人。节约了人员和时间

基于ICT的功能测试系统

客户要求:

1,对待测板上运算放大器,AD,TTL,MCU进行功能测试

2,对待测板VCC进行上电

3,要支持JTAG的在线编程

4,需要具用通用性,可以支持多种机种

系统结构:

模块功能

1,PC:对ICT和Power,Function module JTAG 进行控制

2,programpowersupply:对UUT进行上电,

3,Functionmodule:AD,OP,AD, TTL MCU Function test

4,JTAGmodule:JTAG在线烧录模块

5,Fixture,提供电源,测试点,JTAG触点夹具

实现流程:

首先对UUT用PTI816进行静态测试,如果测试PASS,则powersupply对UUT进行上电,进行JTAG烧录.确认烧录后再对AD,TTL,MCU等IC进行功能测试
基于ICT的功能测试系统

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