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激光位移传感器用于**屋瓦几何检测-opto
日期：2024-11-18 18:17
浏览次数：1915
摘要：
**屋瓦生产企业要求在生产过程中，测量屋瓦的外形几何尺寸，以确保产品的一致性和超高品质。激光位移传感器被用于屋瓦3D检测和表面评估。激光位移传感器optoNCDT1750被安装于旋转，可移动的卡具中。激光位移传感器按照预定的检测路线移动，采集屋瓦的纵向和横向几何尺寸信息，可以检测复杂几何形貌和特定尺寸公差。
激光位移传感器还可以用于表面粗糙度的检测。调整和优化激光位移传感器到屋瓦的距离，记录激光微小光斑的直径。对于大规模测量，需要采用抽样算法（如每mm采样40个测量结果），可以得到粗糙度结果。由于optoNCDT 1750激光位移传感器采用了2级半导体激光光源，无需对激光做额外特殊防护。
优势
*新技术，之前传统方法无法检测的参数，如表面粗糙度可以被客观评价，并被直接纳入到生产环节中。
采用激光位移传感器之前，类似检测需要将屋瓦送检到中央检测实验室，并需要等待很长时间才能得到测量结果。
检测速度获得大幅度提高
系统化产品质量问题会在*短的时间内被检测出来
检测系统要求
大量程 (> 40mm) ，以确保屋瓦的几何尺寸在一个工序内就可以获得，无需调整传感器位置。
对于短期检测，可以实现高采样频率 (5000次采样 / s)
高精度 (线性度可达60µm) ，用于轮廓扫描
高分辨率 (<3µm), 用于表面粗糙度检测
传感器可以适应不同规格屋瓦的颜色和材料变化
用于测量和表面评估的传感器
激光位移传感器optoNCDT1750
控制器带RS422接口