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第13年
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产品详情
简单介绍：
冷热冲击试验机立一检测用途：电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具.
详情介绍：
冷热冲击试验机立一检测
一、用途：电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具.
二、特点：
1、上下两箱式结构转换速度快，恢复时间短。
2、操作简单，合理的风道循环系统工程，温度分布均匀。
3、中文界面液晶显示程序控制器。
4、强力入制冷进口压缩机，降温速度快。
5、完备可靠的**装置。
6、高可靠性设计，适合于24小时连续试验。
三、冷热冲击试验机立一检测技术参数：
一、用途：电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具.
二、特点：
1、上下两箱式结构转换速度快，恢复时间短。
2、操作简单，合理的风道循环系统工程，温度分布均匀。
3、中文界面液晶显示程序控制器。
4、强力入制冷进口压缩机，降温速度快。
5、完备可靠的**装置。
6、高可靠性设计，适合于24小时连续试验。
三、冷热冲击试验机立一检测技术参数：
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规格型号
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LY-TS-42（A-C）
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LY-TS-80（A-C）
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LY-TS-150（A-C）
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高温槽温度范围
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+60℃～200℃
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低温槽温度范围
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A:( -40℃～-10℃) B: (-50℃～-10℃) C:( -60℃～-10℃)
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试验箱冲击温度
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高温
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+60℃～200℃
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低温
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A:( -10℃～-40℃) B: (-10℃～-50℃) C:( -10℃～-60℃)
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升温时间
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RT～200℃约需35分钟
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降温时间
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RT～-70℃约需85分钟
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冲击恢复时间
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高温(150℃)冲击30分钟
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低温(-40℃ or -50℃ or -60℃)冲击30分钟
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冲击恢复时间:5分钟以内
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试样重量
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1.5kg
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4 kg
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8 kg
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结构尺寸
W*H*G(cm)
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内箱
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40×35×30
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40×50×40
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50×60×50
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外箱
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140×180×145
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148×190×155
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160×200×175
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结构材质
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内箱：SUS304#钢板 外箱：钢板喷塑 保温层：PU发泡 底座：国标角铁+槽钢
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冷冻系统
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复叠水冷式欧美原装进口全封闭或半密闭式压缩机组
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控制器
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大型LCD彩色触控人机界面控制器or单显LCD触控人机接口控制器
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**保护装置
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无熔丝过载保护，压缩机过热、过流、超压、加热干烧、箱内超温警报系统
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标准配置
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测试孔（φ50×1只），试料架（2组）
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功率（约kw）
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12
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24
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40
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