分析天平 XS105DU
产品简介
梅特勒-托利多XS105DU分析天平*大称量值41/120g，可读性0.01/0.1mg；XS105DU电子天平采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果；广州君达代理销售XS105DU电子分析天平具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序；分析天平XS105DU全自动校准技术，温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性。
产品详细信息
梅特勒-托利多 XS105DU分析天平 技术参数
| 量程 | 双量程 |
| 可读性 | 0.01/0.1mg |
| *大称量值 | 41/120g |
| *大称量值重复性(s) | 0.1mg |
| 10g重复性(s) | 0.02mg |
| 线性 | ±0.2mg |
| 1/2*大称量1）四角误差 | 0.3mg |
| 灵敏度漂移 | 0.0004% |
| 灵敏度温度漂移2） | 0.00015%/℃ |
| 灵敏度稳定性3） | 0.0002%/a |
| 典型称量时间4） | 6s |
| 接口更新速率 | 23/s |
| 防风罩有效高度(mm) | 235 |
| 秤盘尺寸(mm) | 78×73 |
| 天平外形尺寸(W×D×H)(mm) | 263×453×322 |
梅特勒-托利多XS105DU电子天平展示****的称量性能、****的符合人体工学的操作体验及先进的数据管理解决方案。它们完全遵循行业法规的要求，确保更高的生产效率并使操作更**。
XS105DU分析天平 功能特点
- 采用高精度、高分辨率后置式传感器，获得准确称量结果
- 全自动校准技术（FACT） - 温度漂移触发的天平自动内校，内置两组砝码实现线性误差校准，确保称量结果的准确性
- 变量程**设计（DeltaRange）和双量程（DualRange）设计，满足客户对不同样品的称量需求
- **性的网格称量盘（SmartGrid）、悬浮在称量室中的后挂称量设计，获得快速、稳定的称量结果
- 易巧称量组件（ErgoClips），方便客户使用不同去皮容器进行称量
- 触摸屏技术（Touch screen），方便天平称量菜单和参数设置
- 可移动的显示控制终端，方便天平使用
- 完全可拆卸的防风罩设计，实现天平的快速清洁
- 内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
- 优化天平适应性的称量参数设置，满足不同称量环境要求
- 具有简单称量、统计称量、公式称量、密度测定等内置应用程序
- e-Loader II软件，实现更便捷的天平软件更新
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