C测试仪 HIOKI 3540-40、3504-50、3504-60

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产品型号：HIOKI 3540-40、3504-50、3504-60

品牌：日本日置HIOKI

公司名称：广州君达仪器有限公司

所在地：广东广州

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产品简介

C测试仪3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试，C测试仪3504-60、3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试，C测试仪3540-40高速测量2ms，C测试仪3504-50对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能，C测试仪3504-60，查出全机测量中的接触错误，提高成品率，日本日置HIOKI 3504-40电容测试仪价格优惠。

产品详细信息

电容测试仪3540-40、3504-50、3504-60技术参数：

测量参数	Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围	C:0.9400pF～20.0000mF D:0.00001～1.99000
基本确度	（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率	120Hz, 1kHz
测量信号电平	恒定电压模式: 100mV (**3504-60) 500 mV, 1 V 测量范围: CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz) CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻	5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示	发光二级管（6行表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间	典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST） ※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能	4端子控制检测功能（**3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-C抑制功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
电源	AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
体积及重量	260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件	电源线×1，预备电源保险丝×1，接地适配器×1