射频注入探头 P500
产品简介
射频注入探头P500来自功率放大器的射频干扰通过探头流向被测针脚，同时在探头**进行电流和电压的测量。射频注入探头P500可以记录下的参数可以绘制IC的EMC特性，得出更正确的结论。大电流时，因磁性原因产生功能故障，大电压时，因耦合电容产生故障。
产品详细信息
产品说明：
一个固定功率的射频通过耦合到IC针脚上来表征其抗干扰的能力。IC的故障则可显示内部干扰。来自功率放大器的射频干扰通过探头流向被测针脚，同时在探头**进行电流和电压的测量。记录下的参数可以绘制IC的EMC特性，得出更正确的结论。大电流时，因磁性原因产生功能故障，大电压时，因耦合电容产生故障。新的测量程序下，无功电流的测量不能由一个共同的测量功率进行。因此，详细的检查结果仍是未知的。但是电路板的发展得益于新的测量方法，那就是射频注入。
总体技术参数：
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探头型号
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Probe 501
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Probe 502
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Probe 503
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电流表频率
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2 MHz - 3 GHz
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2 MHz - 3 GHz
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200 kHz - 1.5 GHz
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大电流
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1 A
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1 A
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1 A
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电压表频率
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16 kHz - 3 GHz
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16 kHz - 3 GHz
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16 kHz - 3 GHz
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大电压
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50 V
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1 V
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50 V
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转移因子
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- 40 dB
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0 dB
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- 40 dB
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耦合电容
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3 µF oder 6.8 nF*
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3 µF oder 6.8 nF*
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3 µF oder 6.8 nF*
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大功率传输
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30 W
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30 W
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30 W
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辅助供电:
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12 V
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12 V
|
12 V
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