膜厚计 RST-231
产品简介
SANKO三高 RST-231 膜厚计 可在短时间(0.7 秒)内对绝缘体上的金属膜(如铜箔、印刷电路板上的电镀层)进行高精度测量。
产品详细信息
SANKO三高 RST-231 膜厚计
特点
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使用四点探头(开尔文型)。 可对双面和多层电路板进行测量,不受背面或内层的影响。
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使用 PC。屏幕大、易读。
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易于校准和测量。可选择两个量程,测量 2 至 120 µm 的金属膜。
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*多可注册 40 个通道,可按用户名、部件号等对通道进行单独注册和管理。
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可保存每个通道的测量数据,并可设置统计项目,以便日后对测量数据进行统计处理。
- 可通过设置薄膜厚度的上限和下限来通知异常值。
仕 様
測定原理
4 探头电阻式
測定範囲
2~24μm、10~120μm
通道数
40 个通道
数据容量
100,000 个数据
显示
取决于电脑显示器屏幕
统计处理
*大值、*小值、平均值、标准偏差、
平均值、标准偏差、直方图、上下限设置
電源
AC100-240V、50/60Hz、10VA
重量
3.0kg(本体)
外形寸法
280(W)×230(D)×88(H)(本体)
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