膜厚计 SM-Pen
产品简介
SANKO三高 SM-Pen 膜厚计 笔形探头可测量小部件(按需定制)。
产品详细信息
SANKO三高 SM-Pen 膜厚计
特点
-
笔式探头,顶端有超细磁极。
- 可测量小零件和狭小空间。
仕 様
測定範囲
0 至 300 微米 0 至 5 毫米(2 行刻度)
測定精度
均匀表面上 ±2 µm 或指示值的±5%
電源
単4乾電池 (1.5V)×6
工作温度
0-40°C (无冷凝)
机身尺寸
105(W)×48(H)×165(D)mm
重量
500g
付属品
标准厚度板、刻度盘盖、储存箱
探针
笔式 φ11 x 130 mm,CVD 极:φ2.6 x 4.5 mm
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