HPS2663精密四探针测试仪 HPS-2663

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产品型号：HPS-2663

品牌：常州海尔帕

公司名称：上海伊测电子科技有限公司

所在地：上海浦东

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产品简介

HPS2663精密四探针测试仪
可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。

产品详细信息

HPS2663精密四探针测试仪

HPS2663精密四探针测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电极片、氢燃料电池电极片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。

性能特点

v 超大液晶人性化操作界面

v 多种测量参数可选

v 测量数据自动保持功能

v 超快测量并显示读数

v 量程有自动和手动双模式

v 档号显示及档计数功能

v 兼容多种材料测量

v 专业的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制v

应用

l 硅类半导体材料

l 柔性材料导电薄膜、金属镀层、ITO膜或纳米涂层

l 金属化薄膜电容器、导电塑料

技术参数

产品型号	HPS2663
性能指标
显示器	高清LCD液晶显示
显示位数	5位
测量范围和精度
电阻率	10µΩ･cm －20MΩ･cm
方块电阻	10µΩ/□ －20MΩ/□
直流电阻	10µΩ－20MΩ
精度	电阻率、方阻：4%；电阻：0.1%；
测量功能
量程方式	自动，手动
测量速度	快速: 6 次/秒，中速: 2次/秒，慢速: 2 次/秒
触发方式	内部，手动，外部
校正功能	专用治具短路清零
测量端	四线制（2个检测端和2个驱动端)，5端
分选和接口
分选功能	内建比较器：合格、上超和下超
讯响	OFF,IN,HI,LO(音量可调）
接口配置	RS-232C接口/HANDLER/
一般规格
操作环境	0°C －40°C ，≤90%RH
电源要求	198V －242V(AC），47.5Hz －63Hz
功耗	≤30 VA
尺寸	335 mm(宽) x 120 mm(高) x 320 mm(深)
重量	2kg