小麦品质分析和面粉麸星检测仪 DSF-III

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产品型号：DSF-III

品牌：杭州大吉光电仪器有限公司

公司名称：杭州大吉光电仪器有限公司

所在地：浙江杭州

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产品简介

小麦品质分析和面粉麸星检测仪:快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等，面粉的麸星、砂石的大小和含量。小麦品质分析和面粉麸星检测仪用于实验室快速检测获得批处理数据（包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度或饱满度、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等；面粉的麸星、砂石的大小和含量）。小麦品质检测方法符合GB/T 5504-2011《粮料检验 小麦粉加工精度检验》、GB/T 27628-2011《粮油检验 小麦粉粉色、麸星的测定》中的小麦粉麸星测定方法。

产品详细信息

小麦品质分析和面粉麸星检测仪快速测量小麦的粒数、千粒重、粒形、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等，面粉的麸星、砂石的大小和含量。用于实验室快速检测获得批处理数据（包括小麦粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度或饱满度、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等；面粉的麸星、砂石的大小和含量）。小麦品质检测方法符合GB/T 5504-2011《粮料检验小麦粉加工精度检验》、GB/T 27628-2011《粮油检验小麦粉粉色、麸星的测定》中的小麦粉麸星测定方法。

小麦品质分析和面粉麸星检测仪仪器特点：
仪器由光学成像系统、智能分析软件、220g量程1mg精度电子天平组成。系统具有优越的自学习能力，实现人性化的一键式智能分析，并可交互修正个别的分类错误点，以达到100%正确分类结果。该分析系统能大批量处理，自动分析300个以上小麦和面粉样品的高分辨率图像。由专业软件分析成像后的彩色/图像，准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度（即：可按面积自动排序及输出）、籽粒颜色、霉变率、芽麦率、黑胚率、破损率等指标，以及面粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况，并交互修正；当面粉指标偏离设定参数时，可报警显示；用户可随意查询检测结果，并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。数据准确可靠，结果稳定、重复性高；样品可重复测试，重现性高。

小麦品质分析和面粉麸星检测仪主要性能指标：
*大分析面积：小麦为A4纸幅面；面粉为35mm×35mm
测量时间：小麦≤2分钟/样品；面粉≤1分钟/样品视野。
小麦千粒重测量重复性误差±≤0.5%
两次扫描单面分析外观品质的重复性误差±≤2.0%
可接入条码枪来自动刷入样品编号，分析结果可对应样品编号输出至EXCEL表，分析图像标记结果可保存。