CMS2涂镀层厚度测量仪(台式)
产品简介
COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法准确测定任何类型底材上的多镀层厚度。CMS2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测试,以检测电位差(如多层镍涂层的质量控制)。
产品详细信息
特性:
- 使用准确性高的电解退镀技术(库仑法),准确地测量多镀层的厚度
- 图形显示的交互方式,易于操作
- 适用性广泛:可测量金属和非金属底材上的镀层厚度,也适合测量多镀层厚度
- 提供**的附件产品供您选择,可满足特定需求
应用:
- 金属和非金属底材上任何类型的金属镀层
- 单层或多层的镀层厚度测量
- 特别适用于通过 STEP 测试进行多层镍测量
- 适用于 0.05 µm 至 40 µm 的镀层厚度测量