Analyst ems 12KN开放式电路板测试系统 12KN

Analyst ems 12KN开放式电路板测试系统

　　CheckSum Analyst ems 12KN 开放式电路板测试系统是设计用于所有电路板的开放式测试平台。该系统可提供单板或联片板的 ICT 测试、芯片编程、边界扫描和功能测试的平台。

　　Analyst ems 12KN开放式电路板测试系统设计用于测试大部分单面或双面 SMT/ 通孔电路板。可为现今制造的大部分模拟或数字电路板装配进行有效的不加电测试。

　　双层探测技术和可选加电功能测试适合包含某些数字电路的低频模拟电路板。

　　Analyst ems 12KN开放式电路板测试系统无需使用电源便可测试整块电路板或单独元器件。使用如DC或复合阻抗测量的**测量技术与多点式监护，该系统可发现如短路、开路及错误或不正确安装元器件等的大部分故障。在电路板处于**不加电模式时发现大部分**，并结合具体的故障诊断信息，**电路板可获得迅速修复。

　　产品特点

　　• 测试点数*多可达 5200 点、待测电路板的尺寸*大可至 61 x 33.5 厘米 的**在线测试

　　• 双层探测技术可提供ICT测试和独立功能测试

　　• 双层夹具没有额外费用

　　• MultiWriter*芯片编程、多达 384 块芯片的同步编程

　　• Corelis, Asset, JTAG 和 Goepel 的边界扫描运行环境

　　• 可提供 TestJet 技术

　　• 全集成 CheckSum Windows 测试系统软件环境

　　• 符合人体工学的滑入式夹具设计、夹具上下锁定确保**操作

　　• 光电保护**保证操作人员的**

　　• 内置 SPC 测量工具;便于工厂数据系统集成

　　• 集成机架/机箱的快速平稳按压驱动方式

　　滑入式治具顶部和底部确保不同机种的换线在很短的时间内完成。

　　一旦操作员将待测电路板 (UUT) 的定位孔放在治具定位柱上并按下测试键，系统的压床会自动下降至 ICT 位置使探针与测试点充分接触。为确保操作员**，如果光电保护探测到任何物体，压床会立刻停止运行。

　　如有需要，系统会自动将压床移至功能测试位置，以使只用于芯片编程、边界扫描或功能测试的探针与待测电路板的测试点接触。

　　测试结束后，系统显示测试结果而压床会自动抬起，以便移走测试结束的电路板。

　　规格简述：12KN 气动治具系统特色

　　• 与现有 CheckSum KIT1000-QC 和 KIT2KN-QC 治具兼容 ‡

　　• 治具 KIT28 *大的可测尺寸约为 61 x 33.5 厘米;多达 28 个接口 ( 每个接口涵盖200个测试点 )

　　• 治具 KIT20 *大的可测尺寸约为 40.6 x 33.5 厘米;多达 20 个接口 ( 每个接口涵盖 200 个测试点 )

　　• 气缸提供高达 2700 镑 (12000 牛顿 ) 压力

　　• 系统小占地面积：114 x 102 厘米机箱内并备有 7U 储存架区供客户放置选定仪器

　　• 符合 CE

　　系统特有信息

　　• 3200 个测试点、*多可达 5200 个†

　　• MultiWriter 芯片编程选项• 边界扫描 (Asset, Corelis, JTAG, Goepel) 选项

　　• TestJet 技术

　　• 功能测试和数字 I/O 选项

　　• 多电源选项

　　系统软件

　　• Windows 可视编程测试执行程序

　　• **在线帮助

　　• 强大的ICT的功能

　　• 可上电的功能测试

　　• Visual Studio™ 和 LabWindows/CVI™ 链接

　　• 可视化测试系统执行程序包括：

　　    • 统计过程控制 (SPC) 工具

　　    • 测试程序生成工具

　　    • 测试程序验证工具

　　    • 多联片电路板面板支持