汽车电子-BCI大电流注入测试系统 ISO 11452
产品简介
ISO 11452 是一套国际标准和指南,用于测试汽车电子元器件ESA对来自车外界的窄带辐射电磁骚扰的抗扰度。 该标准涵盖乘用车和商用车,适用于汽油车、柴油车和电动车。
产品详细信息
ISO 11452 BCI大电流注入测试系统由以下部分组成
- ISO 11452-1 | General principles & terminology
- ISO 11452-2 | Absorber-lined shielded enclosure
- ISO 11452-3 | Transverse electromagnetic (TEM) cell
- ISO 11452-4 | Harness excitation methods
- ISO 11452-5 | Stripline
- ISO 11452-7 | Direct radio frequency (RF) power injection
- ISO 11452-8 | Immunity to magnetic fields
- ISO 11452-9 | Portable transmitters
- ISO 11452-10 | Immunity to conducted disturbances in the extended audio frequency range
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ISO 11452-11 | Reverberation chamber
目前*新的BCI测试,所谓的大电流注入测试,标准是ISO 11452-4:2020,也就是这个标准的第5版。这个标准里面,其实有两种方法,
- 一种是BCI法,BCI测试100kHz-400MHz
- 一种是TWC法,TWC测试400MHz-3GHz
BCI(Bulk current injection)属于emc测试,是机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法。大电流注入测试(Bulk current injection,简称 BCI)考虑的是汽车电子设备在连续窄带射频电磁场干扰下的抗干扰能力,主要以电流探头作为耦合设备,通过信号产生装置将干扰信号耦合到EUT连接的线缆上(包括电源线,控制线等)。
待测产品EUT通过线束与辅助设备连接,线束长度1700mm(替代法),1000mm(闭环法),电流探头在线束的不同位置注入射频干扰信号(如替代法:15cm/45cm/75cm,闭环法90cm监控探头5cm),观察EUT的性能是否有降低,给出测试结果。
BCI测试系统要求在屏蔽室内完成,信号源输出RF信号给功放,功放将信号放大后直接输出给电流注入探头,通过专业的测试软件,可控制系统自动完成替代法与闭环法的测试,测试频率范围100kHZ-400MHz,可实现 200mA或300mA 闭环法的测试能力,软件自动保存测试结果,打印输出测试报告。
目前ISO11452-4标准已经扩展测试频率到3GHZ,400M-3GHz频段是采用TWC测试法
TWC = Tubular wave Coupler
在11452-4中测试方法
- 替代法:150±10mm、450±10mm和750±10mm;
- 闭环法:900±10mm,监视探头与EUT的距离是50±10mm,替代法中监测探头可有可无;
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TWC法:100±10mm,50Ω的负载离管状波耦合器至少200mm。
符合标准
满足ISO11452-4,FMC1278(Ford standard), GMW3097(GM standard), SMTC 3 800 006(上汽),Q/JLY J7110779B-2014(GEELY), GS 95002(BMW)等标准要求。
ISO 11452 BCI大电流注入测试系统细节
- 在测定过程中,可以任意调动频率点或自由选择频率点进行测试(可以任意拖动光标至指定的频率点)系统能够实时监控前向功率和反向功率以实现保证系统及人身** 当系统监测到输出的前向功率超过系统校准时的某一人设定值时,系统自动提示或渐停可以限制信号源输出,保护BCI探头注入设备不受过大输入信号:
- 可以自动比较不同时间段BCI探头校准因子的变化以达到观察系统稳定性的目的;
- 软件兼容以下标准:ISO11452-4,1S011452-8,IEC61000-4-6等,测试过程全自动,同时也支持人工控制的单频点测试软件兼容ISO11452-4 中的电流注入法(100k-400MHZ)和TWC测试法(400M-3GHz):支持AM/FM/PM调制方式的自动检波测量。
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3种测量模式:
- 步进频率扫描:
- 指定频率点扫描 (不限制数量)
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步进频率+指定频率点扫描 (对应不同标准) ;
ISO 11452 BCI大电流注入测试系统结果性能判据
- Class A: EUT功能或性能一直保持正常,无任何异常现象。
- Class B: 所有功能或性能在干扰状态下,一个或者多个功能或者性能偏移指定的容差,但所有功能或性能在干扰移除以后能恢复到规定的容差限值以内。并且存储数据不能有任何异常现象。
- Class C: 一个或者多个功能或性能暂丧失,但在施加干扰之后EUT能自动恢复到正常模式。
- Class D: 一个或者多个功能或性能暂丧失,但在施加干扰之后通过人为的干预能自动恢复到正常模式。
- Class E: 一个或者多个功能或性能暂丧失,并且不能自动恢复到正常模式。