TH2825A型高速LCR数字电桥

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产品型号：

品牌：常州同惠

公司名称：上海伊测电子科技有限公司

所在地：上海浦东

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产品简介

TH2825A型高速LCR数字电桥可提供高达15ms/次的测量速度、50Hz100kHz十点测试频率、以1mV步进的0.01V-1.0V可编程信号电平、5位读数分辨率、多种源内阻选择和强大的测试功能,可满足生产线质量保证、进货检验及元件设计和评估的测量要求。

产品详细信息

■本产品运用了元件测试领域的全新技术，测试能力可达到甚至超越Agilent4363B的水平，提供了****的*高测量速度15ms/次，尤其是解决了长期困扰测试部门低频测试速度慢的难题，为低频元件如电解电容器、变压器的高速测试提供了解决方案。

多种可选的信号源阻抗模式

■不同LCR表由于输出阻抗的不同可能得到不同的测试结果，TH2825A提供五种可选的阻抗模式以适应不同的需要，保证不同仪表间测试结果的一致性。

恒电平模式适用于多层陶瓷电容器(MLCC)的测量

■陶瓷电容器（MLCC）对测试信号电平极为敏感，TH2825A能以恒定的高电平测试信号高速测量大容量陶瓷电容器，允许在恒定1kHz/1Vrms条件下对高达30μF的MLCC进行测试，100Hz测量可对300μF电容器提供恒定的1Vrms测试信号。

强大的变压器测试能力

■TH2825A具备变压器测试能力，使用专门的变压器测试夹具，无须改变测试线方式便可方便地测量匝数比（N，1/N）、互感（M）、初次级电感（LA、LB），初次级直流电阻（DCR2）。有-5V-5V偏置电压（仅TH2825A），可方便地用于通讯变压器和小功率扼流圈的测试。

■该产品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令与Agilent

与知名仪表的接口兼容性

性能特点：

■ 超高速测量：15ms(测试频率≥100Hz时)

■ 大型LCD(240×64点阵)显示

■ 人性化引导式操作界面

■ 50Hz－100kHz, 10个典型测试频率

■ 10mVrms—1.0Vrms可编程测试电平

■ 内部DC偏流源高达200mA（使用25Ω内阻）

■ 准确的负载校准功能

■ 4种可选源阻抗模式，便于兼容不同LCR表的测试一致性

■ 4点频率/电平/偏流列表扫描功能

■ 变压器参数测量能力

■ 12组内部仪器设定储存

■ 内建9档比较器，分选及档计数

■ 具有良品/非良品（Hi/Go/Low）警示声响判定功能

■ 测试电平V/I监视功能

■ 与Agilent 4263B兼容的Handler接口

■ 与Agilent4263B兼容的IEEE-488控制命令

技术参数：

型号		TH2825A
显示器		240x64点阵LCD显示器，5位读数分辨率
测试参数	LCR参数	\|Z\|,R,X,G,B,C,L,Q,D,θ(deg),θ(rad),DCR
	变压器参数	DCR，DCR2，M,N，1/N，LA，LB
测试频率		50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz,40kHz,50kHz,100kHz,共10点
测试电平		10mVrms-1.0Vrms,1mV步进＜200mV10mV步进≥200mV
信号源内阻		25Ω，100Ω，25Ω/100Ω，C.V.（恒压）
DC偏置电流（≥1kHz）		当100Ω内阻时，±50mAMax当25Ω内阻时，±200mAMax
基本测量准确度		0.1%
		\|Z\|,R,X	0.01mΩ—99.99MΩ
		G,B	0.0001μS—999.99S
		C	0.001pF—1.9999F
		L	0.001μH—99.9999kH
		Q	0.0001—9999
显示范围		D	0.0001—9999
		θ(DEG)	-180.00°—180.00°
		θ(RAD)	-3.1415—3.1415
		Δ%	-999.99%—999.99%
		TurnsRatio	0.001—9999.9
		DCR	0.1mΩ—99.99MΩ
		M,L2	0.001μH—99.99kH
测量速度（≥100Hz）		快速:15ms（注1）,中速:66ms,慢速:500ms
等效电路		串联,并联
量程方式		自动,保持/手动切换
触发方式		内部,手动,外部，总线
平均次数		1—255
校准功能		开路,短路,负载校正
测量端		5端
显示方式		直读,ΔABS,Δ%,V/I(电压/电流监示),档号及档计数
列表扫描		4点频率,电平列表扫描测试
比较器功能		九档（八档合格，一档不合格）
		上超/合格/下超比较器
存储器		12组内部仪器设定供存储/调用
接口		RS-232C,HANDLER,GPIB(选件)
		4263B完全兼容，为与4263B��互换提供了良好的条件。
		注1：快速测试时间包括A/D、计算、主/副参数小字符显示比较判别。若包括测试参数大字符显示，*快测试时间另加5ms。