三丰525系列CS-3200S4表面粗糙度和轮廓测量系统
产品简介
三丰525系列CS-3200S4表面粗糙度和轮廓测量系统特点: 1. 配有宽范围且高分辨力的Z轴检出器。 2. 测量范围:Z1轴(检出器):5mm(分辨力:0.0008μm,测量范围为0.05mm时适用) X轴:100mm(分辨力:0.5μm) 3. 检出器的延伸量:*大70mm(可固定在所需的位置)。 4. 适用官方FORMTRACEPAK软件提供了丰富多样的分析功能以实现优良的表面纹理评估。
产品详细信息
三丰525系列CS-3200S4表面粗糙度和轮廓测量系统
三丰525系列CS-3200S4表面粗糙度和轮廓测量系统特点:
1. 配有宽范围且高分辨力的Z轴检出器。
2. 测量范围:Z1轴(检出器):5mm(分辨力:0.0008μm,测量范围为0.05mm时适用)
X轴:100mm(分辨力:0.5μm)
3. 检出器的延伸量:*大70mm(可固定在所需的位置)。
4. 适用官方FORMTRACEPAK软件提供了丰富多样的分析功能以实现优良的表面纹理评估。
三丰525系列CS-3200S4表面粗糙度和轮廓测量系统技术参数
货号 |
|
|
CS-3200S4 |
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测量范围/ 分辨力 |
X轴 |
100mm/0.05μm |
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Z1轴(检出器) |
5mm/0.08μm 0.5mm/0.008μm 0.05mm/0.0008μm |
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Z2轴(立柱) |
1μm |
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精度(20℃) |
X轴 |
±(0.8+0.01L)μm(L=测量长度(mm)) |
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Z1轴(检出器) |
±(1.5+(2H)/100)μm(H=水平位置上的测量高度(mm)) |
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驱动部 |
直线度(X轴) |
正常使用下 |
0.2μm/100mm |
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当伸出到*大程度 |
0.4μm/100mm |
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测量速度 |
表面粗糙度测量 |
0.02,0.05,0.1,0.2mm/s(4-step) |
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轮廓测量 |
0.02,0.05,0.1,0.2,0.5,1.0,2.0mm/s(7级) |
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驱动速度 |
X轴(水平方向) |
0 to80mm/s 外加手动 |
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Z2轴(垂直方向) |
0 to20mm/s 外加手动 |
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上/下移动 |
300mm(电动) |
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倾角范围 |
±45° |
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检出器 |
检出方式 |
差动感应 |
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测力 |
0.75mN |
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测针名称 |
标准测针(用于粗糙度/轮廓测量) |
针尖角度:60°圆锥,针尖半径:2μm,金刚石针尖 |
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圆锥形(用于轮廓测量) |
针尖角度:30°圆锥,针尖半径:25μm,蓝宝石针尖 |
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测针上/下运作 |
适用(可在半空停顿) |
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注:虽然天然石材测量桌的外观各有不同,但材料的稳定性是值得信赖的。