IC电磁发射测试系统 1Ω/150Ω直接耦合法
产品简介
依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法是根据集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统-1Ω/150Ω直接耦合法,用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。
产品详细信息
集成电路EMC测试系统
依据IEC 61967-4的IC电磁发射测试系统
传导发射测量方法——1Ω/150Ω直接耦合法
集成电路电磁兼容测试标准,目前出版的有集成电路电磁发射测试标准IEC61967和集成电路电磁抗扰度标准IEC62132 。IEC61967标准,用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试。
IEC61967-4规定了两种测试方法:1Ω测试法和150Ω测试法。1Ω测试法用来测试接地引脚上的总骚扰电流,150Ω测试法用来测试输出端口的骚扰电压。
全套测试系统,由以下几个部分组成:
1.EMI测试接收机,可选ESL3
标准对频谱仪或接收机的要求:
• 频率范围覆盖150kHz-1GHz
• 峰值检波、带Max值保持功能
• 分辨率带宽的设置如下表:
测量仪器
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频段
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150kHz-30MHz
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30MHz-1GHz
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频谱分析仪(3dB)
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10kHz
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100kHz
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接收机(6dB
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9kHz
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120kHz
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2.测试电路板
对集成电路的EMC测试,被测IC需要安装在一块印制电路板上,为提高测试的方便性与重复性,标准规定了电路板的规格,标准电路板的大小与TEM小室顶端的开口大小匹配。
GND22-04测试电路板,完全依据集成电路电磁兼容测试要求设计,由下列部件构成:
• 测试板
• GND平面GND22-04
• 连接板CB 0706
• IC适配器
• 控制单元
3.Probe 603电流探头以及Probe 750电压探头
Probe 750:依据IEC 61967-4的电压探头
应用:测量IC引脚的电压,依据IEC 61967-4的150Ω法
主要技术参数:
• 输入阻抗:150 ?
• 频率范围:可达3GHz
• RF输出:50 ?
• 50Ω频率响应
Probe 603: 依据IEC 61967-4的电流探头
应用:测量IC引脚的电流,依据IEC 61967-4的1Ω法
主要技术参数:
• 分流电阻:
Probe 602:0.1欧姆
Probe 603:1欧姆
• 耦合电容:85 µF
• 分流电阻*大功耗:2.5瓦
• RF输入:1nH
• RF输出:50 ?
•不带前置放大器:-6dB
• 频率范围:200Hz-3GHz