IC脉冲群抗扰度测试系统 HS62215
产品简介
IC脉冲群抗扰度测试系统是根据集成电路电磁兼容的测试标准设计的测试系统,IC脉冲群抗扰度测试系统主要有电磁发射测试标准IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试)、电磁抗扰度标准IEC 62132(用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试)以及脉冲抗扰度标准IEC 62215。
产品详细信息
本系统用于依据IEC 62215第三部分,测量集成电路对脉冲群信号的敏感度,系统由脉冲群信号发生器、注入探头和IC测试板等三部分组成:
集成电路电磁兼容测试标准,主要有电磁发射测试标准IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试)、电磁抗扰度标准IEC 62132(用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试)以及脉冲抗扰度标准IEC 62215。其中,IEC 62215标准,包括以下三部分:
Part 1:通用条件和定义;
Part 2:传导抗扰度测量方法——同步脉冲注入法 ;
Part 3:传导抗扰度测量方法——随机脉冲注入法参考(IEC61000-4-2和IEC61000-4-4) 。
本系统用于依据IEC 62215第三部分,测量集成电路对脉冲群信号的敏感度,测试方法为:由脉冲群信号发生器产生脉冲信号,使用脉冲群注入探头,向集成电路的电源引脚或者信号引脚注入脉冲群信号,检查集成电路的抗干扰性能。
典型配置:
序号
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型号
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说明
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数量
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1.1
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BPS 201
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脉冲群信号发生器
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1
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1.2
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Probe 201
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脉冲群电流注入探头,电压范围5-35V
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1
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1.3
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Probe 211
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脉冲群电流注入探头,电压范围0.5-5V
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1
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1.4
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Probe 301
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脉冲群电压注入探头,电压范围140-500V
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1
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1.5
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Probe 311
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脉冲群电压注入探头,电压范围5-140V
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1
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1.6
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GND 22
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针对不同尺寸集成电路适配器的接地平面
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1
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1.7
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CB 01
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连接板
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1
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1.8
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CU 10
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控制单元,控制电平的***)和低(L)
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1
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1.9
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OA 4005
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4通道示波器适配器
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1
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1.10
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Accessories
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电缆等附件
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1
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一、BPS201脉冲群信号发生器
主要技术指标:
脉冲群信号重复频率:0.1 Hz - 20 kHz
脉冲群电压:取决于所连接的注入探头
极性:正、负或者交替
二、注入探头
注入探头,把BPS201产生的信号进行放大后,注入到集成电路的引脚上。
可选4个脉冲群注入探头,分别为:
探头
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Probe 201
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Probe 211
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Probe 301
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Probe 301
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脉冲电压
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5-35V
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0.5V-5V
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140V-500V
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5V-140V
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脉冲形状
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1.5/5ns
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1.5/5ns
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1.5/20ns
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1.5/20ns
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耦合电容
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1.2μF
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1.2μF
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18pF
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18pF
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内部电阻/电感
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约1?/2nH
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约1?/2nH
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约100?/50nH
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约100?/50nH
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典型应用
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连到低阻抗结构的IC引脚,包括Vdd, Vss,信号引脚
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连到高阻抗结构的IC引脚,包括信号引脚
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三、IC测试板,包括接地平面及IC适配器等
IC测试板,由接地平面、IC适配器、连接板等组成:
· 接地平面:大块连续镀金的地平面是电磁兼容测试中确保EUT(芯片)和探头保持良好连接的先决条件。
· IC适配器:连接EUT的小电路板。它插在地平面上并包含必需的滤波器。在测试期间它确保可靠的地平面并限制EUT的电源。
· 连接板:连接电路板,在芯片适配器和外部连接器之间。它控制LED的显示。
其中,接地平面GND,可选:
GND20-01:针对集成电路适配器(22.7 x 22.7mm)的接地平面
GND20-02:针对集成电路适配器(32.7 x 32.7mm)的接地平面
GND20-03:针对集成电路适配器(68.1 x 22.7mm)的接地平面
GND22-04:针对集成电路适配器(100 x 100 mm)的接地平面(符合IEC61967-2标准)
IC适配器卡,用于放置被测IC,滤波器以及连接线。对于一个IC的测试,可能需要具有不同滤波参数的多个适配器卡。用于电源的滤波器,一般放在连接板上。
IC适配器卡可以由LANGER公司提供,客户也可以在LANGER公司的协助下自己做IC适配器卡。
四、测试附件
·CU10控制单元
·OA 4005:四通道示波适配器
·TH 21探头支架