CP50共面性测试仪 CP50
产品简介
CP50共面性测试仪用于准确且多样性地对各种IC封装器件的引脚进行测量。引脚的共面与否、是否有移位和尺寸大小均可通过软件记录和存储。测试过程中,IC封装器件的引脚放置于LED阵列光源形成的可调节细格光栅前,器件的左右移动通过仪器侧面的手轮控制。
产品详细信息
CP50共面性测试仪
CP50共面性测试仪主要特点:
1、元器件共面性测试
2、引脚移位检测
3、引脚高度错误检测
4、引脚面积测量
5、直径、角度、不规则面积测量
6、手轮可调节光栅
7、非刺眼型光源
8、高精度XZ轴测距
9、SPC过程统计
CP50共面性测试仪的应用
软件方面,引脚成像于电脑显示器上,并可进行测量,同时通过器件的移动可逐一检测各个引脚高度是否一致,高精度的XZ轴测微距头保证了测试的准确性。所有数据可以以记事本或EXCEL表格形式存储于电脑内,方便调用。同时开放SPC过程统计功能供参考。SPC过程统计功能可在任何时间查看任意产线的数据。数据可以以X-Bar、R-Bar或柱状图形式显示SPC报告。
主要参数:
FOV视野:3.5x2.5mm 电脑:AMD或INTEL当前主流配置
光栅照明:8x白色LED(12600光强) LED照明:8x白色LED(12600光强)
X轴*大移动范围:50mm Z轴*大移动范围:15mm
X轴测距精度:0.001mm Z轴测距精度:0.00
电脑操作系统:WINDOWXP或7 光栅*大调整:13mm
重量:约35KG 光学系统:1/2”MonoCCD
尺寸:500mmx500mmx300mm(长x宽x高) 显示器:17“宽屏
电源:240VAC50/60Hz