近场探头组 XF1
产品简介
近场探头组XF1是由4个磁场探头和1个电场探头组成,近场探头组XF1的频率范围30MHz ~ 6GHz。
产品详细信息
描述:
- 频率范围30MHz ~ 6GHz
- 由4个磁场探头和1个电场探头组成
- 磁场探头 XF-R 400-1,XF-R 3 – 1,XF-B 3 – 1,XF-U 2,5 - 1
- 电场探头 XF-E 10,含SMA-SMA电缆
近场探头组XF 1各探棒介绍
说 明
XF-R 400 – 1:直径约25mm,高灵敏度,低分辨率,可以距离被测物10cm使用,检测场的分布,用于磁场源定位,分析干扰源。
频率范围30MHz-6 GHz。
直径约25mm。
XF-R 3 – 1:探头尺寸小,分辩率为毫米级。
在布线、IC管脚、旁路电容及EMC元件等区域,通过移动探头,可以检测磁场的分布和方向。
频率范围30MHz-6GHz。
分辨率约1 mm。
RF-B 3-1:用于检测扁平单元表面垂直发射的磁场。
对于PCB有些有遮挡部分的电路,可能无法用XF-R 3 – 1测量场方向,这时可以使用RF-B3-1来测量。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约2mm。
XF-U 2,5-1:用于有选择性地检测细小布线、元件连接处、电容器、IC管脚等的电流频谱。探头顶端有1个约0.5mm宽的磁场敏感的缺口,测试时将这个缺口放在布线、IC或电容器的连接点上。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.5mm。
XF-E 10:探头的**仅有0.5 mm宽,用于测试信号线在其表面发射的电场。内部的屏蔽设计,能防止邻近导线对测试结果的影响,能对每根导线进行单独测量。
频率范围30MHz-6GHz,分辨率约0.2mm。
具体详情请电话联系我司销售人员。